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SIGMAKOKI/西格玛光机反射率测量仪

SIGMAKOKI/西格玛光机反射率测量仪
可实现微小区域和曲面的反射率测量。
可直接测量未经处理的透明薄板的反射率,并能几乎不受底面反射的影响;可快速高精度测量曲面和平面的反射率。

  • 产品型号:SGRM-200N
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-08-11
  • 访  问  量:398
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产品详情

SIGMAKOKI/西格玛光机反射率测量仪

可实现微小区域和曲面的反射率测量。

可直接测量未经处理的透明薄板的反射率,并能几乎不受底面反射的影响;可快速高精度测量曲面和平面的反射率。

采用了特殊结构的半透镜,能高效地收集被测试样的反射光,并高效地导入分光光度计,可快速地完成低反射率样品的测量。
采用了特殊的光学结构,有效地避免了底面反射的影响,可直接测量未经处理的透明薄板的反射率。
(使用20倍物镜时,可测最小透明薄板厚度可达0.3mm)
采用了特殊卤素灯和*创的光学设计,其有效光量大,获取数据快,重复精度高。
测量点小(典型值为φ50μm),可直接测曲面,以及膜层的分布特性。
结构紧凑,体积小,不占空间。
可用Microsoft® Excel®文件格式保存测量数据。
可在同一窗口内,同时显示多个样品的测量结果(曲线),
方便数据的对比分析。
采用峰值跟踪技术,提高了反射率的重复测量精度
技术指标
型号SGRM-200N
测定波长范围380 〜 1050nm
样品侧N.A0.22(使用10倍物镜时)
0.44(使用20倍物镜时)
测量光斑尺寸约φ25μm(使用10倍物镜时)
样品的曲率半径-2mm~-∞,+2mm~∞
再现性精度±0.2% (380 〜 450nm)
±0.02% (451 〜 950nm)
±0.2% (951 〜 1050nm)
显示分辨率1nm
测量时间数秒(受选定的采样时间影响)
外形尺寸(本体)270(W)×465(D)×615(H)mm (不含突出部)
工作温度范围18 〜 28℃
工作湿度范围60%以下(无结露现象)


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