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日本SANKO三高 膜厚计探头可进行铁材和非铁材为基材上的涂层厚度。新的两用探测头FN-325可用于SWT系列的产品(7000、8000、9000)可测量铁与非铁底材为基体的涂层厚度。
联系电话:075529008188
探测头型号 | FN-325 |
测量方式 | 电磁式·涡电流式两用(铁·非铁底材自动识别) |
测量范围 | 铁底材:0~3.00mm、非铁底材:0~2.50mm |
表示分辨率 | 1μm:0~999μm的切换(铁·非铁共通) |
0.1μm:0~400μm(铁·非铁共通) | |
0.5μm:400~500μm(铁·非铁共通) | |
0.01mm:1.00~3.00mm(铁底材) | |
0.01mm:1.00~2.50mm(非铁底材) | |
测量精度 | 0~100μm::1μm(铁·非铁共通) |
(平滑表面) | 或者是指示值的±2%以内 |
101μm~3.00mm:±2%以内(铁底材) | |
101μm~2.50mm:±2%以内(非铁底材) | |
探测部 | 1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g |
选择产品 | V形探测头套有3种(φ5以下用,φ5~10用,φ10~20用) |
附属品 | 标准校正板、试验用零校正板、(铁用·非铁用) |
测量对象 | 铁底材:铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜 |
电镀(电解镍除外)等 | |
非铁底材:铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等 | |
一般较普遍的测量物用 |
机型 | SWT-7000Ⅲ | SWT-7100Ⅲ | SWT-7200Ⅲ | |
测量范围 | 连接的探测头不同测量范围也不同。 | |||
显示方式 | 液晶显示LCD(数据·提示信息)、背光灯 | |||
检量线校正 | 2点校正方式(零校正、标准校正) | |||
检量线存储 | 铁、非铁各1根 | 10根 | ||
测量值存储 | — | 20,000点 | ||
数据传送 | — | USB | USB | |
统计功能 | — | — | 内藏 | |
●背光灯 ●测量模式的切换(普通/连续)●检量线、校正值的删除 | ||||
附加功能 | ●自动关机功能(约3分以上不操作时,机器会自动关机)●分辨率的切换 | |||
●上下限值的设定(SWT-7200Ⅲ) | ||||
电源 | 单3电池×2 | 单3电池×2电源线 | ||
使用温度 | 0~40C°(不结露) | |||
机体尺寸·重量 | 72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g | |||
附属品 | 干电池、收纳袋子 | 干电池、收纳袋子、电源线、USB线、USB软件(CD) | ||
追加产品 | 铁材金属用探测头(Fe)、非铁材金属用探测头(NFe) | |||
铁·非铁材用探测头(FN-325) |
型号 | Fe-2.5/2.5L | Fe-2.5LwA | Fe-0.6Pem |
测量方式 | 电磁感应式 | ||
测量范围 | 0~2.50mm | 0~600μm | |
表示分解率 | 1μm:0~999μm | 1μm:0~600μm | |
切换 | 切换 | ||
0.1μm:0~400μm | 0.1μm:0~400μm | ||
0.5μm:400~500μm | 0.5μm:400~500μm | ||
0.01mm:1.00~2.50mm | |||
测量精度 | 0~100μm:±1μm | 0~100μm:±1μm | |
(平滑面) | 又或者时显示值的±2%以内 | 又或者时显示值的±2%以内 | |
101μm~2.50mm:±2% | 101μm~600μm:±2% | ||
探测部 | 1点定压接触式 | 1点定压接触式 | 1点定压接触式 |
V形口套头 | 测量部:约20×57mm | Φ5.6×94mm | |
2.5:φ13×48mm | 全长:约550~1.550mm | ||
2.5L:18×23×67mm | (伸缩式) | ||
选择产品 | V形套头/— | — | — |
(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用) | |||
附属品 | 标准校正片 | 标准校正片 | 标准校正片 |
试验用零校正板 | 试验用零校正板(铁用) | 试验用零校正板 | |
(铁用) | 收纳袋子 | (铁用) | |
测量对象 | 铁·钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层(电解镍的电镀层除外)等等 | 铁·钢等的磁性金属底材是哪个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。 | 铁·钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。 |
型号 | Fe-10 | Fe-20 |
测量方式 | 电磁感应式 | |
测量范围 | 0~10mm | 0~20mm |
表示分解率 | 1μm:0~999μm | |
1μm:0~999μm | 0.01mm:1~5mm | |
0.01mm:1~10mm | 0.1mm:5~20mm | |
测量精度 | 0~3mm:±(5μm+显示值的3%) | |
(平滑面) | 3.01mm:显示值的±3% | |
探测部 | 1点定压接触式 | 1点定压接触式 |
V形口套头 | V形口套头 | |
φ18×47mm | φ35×59mm | |
选择产品 | — | — |
附属品 | 标准校正片、试验用零校正板(铁用) | |
测量对象 | 铁·钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用 | 铁·钢等磁性金属底材上的厚涂层用 |
型号 | NFe-2.0/NFe-2.0L | NFe-06 | NFe-8 |
测量方式 | 涡电流式 | ||
测量范围 | 0~2.00mm | 0~600μm | 0~8mm |
1μm:0~999μm | 1μm:0~600μm | ||
表示分解率 | 切换 | 切换 | 1μm:0~999μm |
0.1μm:0~400μm | 0.1μm:0~400μm | 0.01mm:1~8mm | |
0.5μm:400~500μm | 0.5μm:400~500μm | ||
0.01mm:1.00~2.00mm | |||
0~100μm:±1μm | 0~100μm:±1μm | 0~100μm:±1μm | |
又或者时显示值的±2%以内 | 又或者时显示值的±2%以内 | ±(±1μm+显示值的±2%) | |
测量精度 | 101μm~2.00mm: | 101μm~600μm: | 101μm~8mm: |
(平滑表面) | ±2%以内 | ±2%以内 | ±2%以内 |
1点定压接触式 | 1点定压接触式 | 1点定压接触式 | |
V形口套头 | V形口套头 | V形口套头 | |
探测部 | 2.0:φ13×47mm | φ11×48mm | φ35×61mm |
2.0L:18×23×67mm | |||
选择产品 | V形套头/- | - | - |
附属品 | 标准校正片、试验用零校正板(非铁用) | ||
测量对象 | 铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘性皮膜等一般普通测量物用。 | 铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘性皮膜等细小的圆棒、细管、小物件等的高安定性用。 | 铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘性皮膜等比较厚的测量物用。 |