产品中心/ products

您的位置:首页  -  产品中心  -  betray雷竞技   -  日本SANKO三高  -  SWT-9000日本SANKO三高 膜厚计探头

日本SANKO三高 膜厚计探头

日本SANKO三高 膜厚计探头
可进行铁材和非铁材为基材上的涂层厚度。
新的两用探测头FN-325可用于SWT系列的产品(7000、8000、9000)可测量铁与非铁底材为基体的涂层厚度。

  • 产品型号:SWT-9000
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-08-09
  • 访  问  量:335
立即咨询

联系电话:075529008188

产品详情
    日本SANKO三高膜厚计探头

    SWT-7000+FN325探头:可进行铁材和非铁材为基材上的涂层厚度。

    新的两用探测头FN-325可用于SWT系列的产品(7000、8000、9000)可测量铁与非铁底材为基体的涂层厚度。

    SWT系列探头可互换。

    ◆两用型:FN-325

    ◆铁材用:Fe系列

    ◆非铁材:NFe系列

探测头型号 FN-325
测量方式 电磁式·涡电流式两用(铁·非铁底材自动识别)
测量范围 铁底材:0~3.00mm、非铁底材:0~2.50mm
表示分辨率 1μm:0~999μm的切换(铁·非铁共通)
0.1μm:0~400μm(铁·非铁共通)
0.5μm:400~500μm(铁·非铁共通)
0.01mm:1.00~3.00mm(铁底材)
0.01mm:1.00~2.50mm(非铁底材)
测量精度 0~100μm::1μm(铁·非铁共通)
(平滑表面) 或者是指示值的±2%以内
  101μm~3.00mm:±2%以内(铁底材)
  101μm~2.50mm:±2%以内(非铁底材)
探测部 1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g
选择产品 V形探测头套有3种(φ5以下用,φ5~10用,φ10~20用)
附属品 标准校正板、试验用零校正板、(铁用·非铁用)
测量对象 铁底材:铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜
电镀(电解镍除外)等
非铁底材:铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等
一般较普遍的测量物用

    SWT-7000Ⅲ系列机型

机型 SWT-7000Ⅲ SWT-7100Ⅲ SWT-7200Ⅲ
测量范围 连接的探测头不同测量范围也不同。
显示方式      液晶显示LCD(数据·提示信息)、背光灯
检量线校正 2点校正方式(零校正、标准校正)
检量线存储 铁、非铁各1根 10根
测量值存储 20,000点
数据传送 USB USB
统计功能 内藏
  ●背光灯 ●测量模式的切换(普通/连续)●检量线、校正值的删除
附加功能  ●自动关机功能(约3分以上不操作时,机器会自动关机)●分辨率的切换  
   ●上下限值的设定(SWT-7200Ⅲ)
电源 单3电池×2 单3电池×2电源线
使用温度 0~40C°(不结露)
机体尺寸·重量 72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g
附属品 干电池、收纳袋子 干电池、收纳袋子、电源线、USB线、USB软件(CD)
追加产品 铁材金属用探测头(Fe)、非铁材金属用探测头(NFe)
铁·非铁材用探测头(FN-325)

    SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头(1)(Fe)

型号 Fe-2.5/2.5L Fe-2.5LwA Fe-0.6Pem
测量方式 电磁感应式
测量范围 0~2.50mm 0~600μm
表示分解率 1μm:0~999μm 1μm:0~600μm
切换 切换
0.1μm:0~400μm 0.1μm:0~400μm
 0.5μm:400~500μm 0.5μm:400~500μm
              0.01mm:1.00~2.50mm  
测量精度 0~100μm:±1μm 0~100μm:±1μm
(平滑面) 又或者时显示值的±2%以内 又或者时显示值的±2%以内
  101μm~2.50mm:±2% 101μm~600μm:±2%
探测部 1点定压接触式 1点定压接触式 1点定压接触式
V形口套头 测量部:约20×57mm Φ5.6×94mm
2.5:φ13×48mm 全长:约550~1.550mm  
2.5L:18×23×67mm (伸缩式)  
选择产品 V形套头/—
(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)
附属品 标准校正片 标准校正片 标准校正片
试验用零校正板 试验用零校正板(铁用) 试验用零校正板
(铁用) 收纳袋子 (铁用)
测量对象 铁·钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层(电解镍的电镀层除外)等等 铁·钢等的磁性金属底材是哪个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。 铁·钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。

    SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头(2)(Fe)

型号 Fe-10 Fe-20
测量方式 电磁感应式
测量范围 0~10mm 0~20mm
表示分解率   1μm:0~999μm
1μm:0~999μm 0.01mm:1~5mm
0.01mm:1~10mm 0.1mm:5~20mm
测量精度 0~3mm:±(5μm+显示值的3%)
(平滑面) 3.01mm:显示值的±3%
探测部 1点定压接触式 1点定压接触式
V形口套头 V形口套头
φ18×47mm φ35×59mm
选择产品
附属品 标准校正片、试验用零校正板(铁用)
测量对象 铁·钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用 铁·钢等磁性金属底材上的厚涂层用

    WT-7000Ⅲ系列的非铁材金属用探测头(NFe)
  
型号 NFe-2.0/NFe-2.0L NFe-06 NFe-8
测量方式 涡电流式
测量范围 0~2.00mm 0~600μm 0~8mm

1μm:0~999μm 1μm:0~600μm
表示分解率  切换  切换 1μm:0~999μm

0.1μm:0~400μm 0.1μm:0~400μm 0.01mm:1~8mm

  0.5μm:400~500μm  0.5μm:400~500μm

  0.01mm:1.00~2.00mm


0~100μm:±1μm 0~100μm:±1μm 0~100μm:±1μm

又或者时显示值的±2%以内 又或者时显示值的±2%以内 ±(±1μm+显示值的±2%)
测量精度 101μm~2.00mm: 101μm~600μm: 101μm~8mm:
(平滑表面) ±2%以内 ±2%以内 ±2%以内

1点定压接触式 1点定压接触式 1点定压接触式

V形口套头 V形口套头 V形口套头
探测部 2.0:φ13×47mm φ11×48mm φ35×61mm

2.0L:18×23×67mm

选择产品 V形套头/-
附属品 标准校正片、试验用零校正板(非铁用)
测量对象 铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘性皮膜等一般普通测量物用。 铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘性皮膜等细小的圆棒、细管、小物件等的高安定性用。 铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘性皮膜等比较厚的测量物用。

在线咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

与我们产生合作,还原您产品蓝图里应有的样子!

立即联系我们
075529008188

欢迎您的咨询
我们将竭尽全力为您用心服务

在线客服

扫码关注我们

Copyright ©2024 深圳电商商业股份有限公司 All Rights Reserved    备案号:粤ICP备15076835号

技术支持:化工仪器网    管理登陆    sitemap.xml

Baidu
map